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產(chǎn)品分類
Product classification
產(chǎn)品品牌:美高
產(chǎn)品類別:恒溫恒濕試驗箱
產(chǎn)品用途:
本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
1、試驗系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計先進(jìn)合理,制造工藝規(guī)范,外觀美觀、大方。
2、該試驗箱主要功能元器件均采用世界名牌配置(含金量高)、技術(shù)原理先進(jìn)可靠、噪音與節(jié)能得到最佳控制——其性能可替代國外同類產(chǎn)品。
3、零部件的配套與組裝匹配性好,主要功能元器件均采用具有國際先進(jìn)水平的原裝進(jìn)口件,提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性,能保證用戶長時間、高頻率的使用要求。
4、設(shè)備具有良好的操作性、維護(hù)性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能、不污染環(huán)境及危害人身健康。
1、GB/T 2423.1-2008 試驗A:低溫試驗方法;
2、GB/T 2423.2-2008 試驗B:高溫試驗方法;
3、GB/T2423.22-2012 試驗N: 溫度變化試驗方法
4、GJB/150.3-2009 高溫試驗
5、GJB/150.4-2009 低溫試驗
6、 GJB/150.5-2009 溫度沖擊試驗
| 型號: | MG-710高速低溫氣流沖擊試驗機(jī) |
|---|---|
| 內(nèi)部尺寸(W×H×D)cm: | W(寬)790mm*H(高)1600mm*D(深)1080mm, 溫馨提示:外部尺寸請依最終設(shè)計確認(rèn)三視圖為準(zhǔn)! |
| 溫度范圍: | -80℃~250℃ |
| 溫度轉(zhuǎn)換速度 : | -55℃~125℃/125℃~-55℃≤10秒 |
| 溫度精度 : | ±0.5℃ |
| 溫度解析度: | 0.1℃ |
| 設(shè)備出氣流量: | 4~18SCFN(1.8l/s~8.5l/s) |
| 測試模式 : | AIR MODE(氣流感測)或DUT MODE (遠(yuǎn)端測量) |
| 工作模式: | 高溫-常溫-低溫/高溫-低溫/高溫-常溫/低溫-常溫/自定義編程 |
| 運(yùn)行模式: | 手動/程序/手動循環(huán)/自動循環(huán) |
| 手臂延伸尺寸 : | 140cm |
| 最高與最低尺寸 : | 720mm~1220mm |
| 耐溫玻璃罩尺寸 : | 內(nèi)徑:140mm;高度55mm |
| 電源: | 單相 220V 50Hz 40A |
| 進(jìn)氣溫度: | +15℃~+25℃ |
| 進(jìn)氣壓力: | 90~110Psig(6.2~7.6bar) |
| 進(jìn)氣流量 : | 1~1.5m3/min |
| 進(jìn)氣露點(diǎn) : | ≤10℃ |
| 含油量 : | ≤0.01ppm |
MG-710 高速低溫氣流沖擊武陵試驗機(jī)
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地 址:東莞市大朗鎮(zhèn)黃草朗村東勝路42號振勤科技大廈A棟5樓
電 話:135-4460-3520/高先生
總 機(jī):180-3835-6988/劉先生
郵 箱:793689242@QQ.com
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萬能材料試驗機(jī)
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